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UNFORS Xi 射线放射评价系统

UNFORS Xi 射线放射评价系统

简要描述:

UNFORS Xi 射线放射评价系统可用于检测所有诊断用X光设备,包括一般的工频X线发生器和高档的变频X线高压发生器的X光机、拍片机、透视机、脉冲透视机、牙科机、全景牙科机、牙科CT机、低剂量CR机、DR机、小型便携式X光机、DSA(数字减影系统)、不同靶材的乳腺机、扫描乳腺机、CT机等医用X光机安全质量性能检测。
同时还具备测量光照度,测量散漏射线的功能。

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  UNFORS Xi 射线放射评价系统简介:

可用于检测所有诊断用X光设备,包括一般的工频X线发生器和高档的变频X线高压发生器的X光机、拍片机、透视机、脉冲透视机、牙科机、全景牙科机、牙科CT机、低剂量CR机、DR机、小型便携式X光机、DSA(数字减影系统)、不同靶材的乳腺机、扫描乳腺机、CT机等医用X光机安全质量性能检测。 
同时还具备测量光照度,测量散漏射线的功能。检测探头小巧,更便于检测对探头摆放位置要求严格的设备如全景牙科机等。

UNFORS Xi 射线放射评价系统测量方式:

   a)一台主机可以搭配不同探头用以满足不同客户的需求,并可以根据客户需求将探头功能分离和整合。

   b)配备专业数据处理软件,基于微软技术,用于显示存储分析检测数据、波形,生成测试报告,并可以通过蓝牙无线连接或RS232有线连接与主机进行实时通讯与双向控制。

   c)半导体固态探头,体积小巧大大增加了设备的便携性(zui轻探头仅50g),相比电离室探头不受外界环境温湿度的影响。

  d)测量低剂量率时无需更换探头

测量模式

   主机须自带显示器,主机无须外接显示器。可以一次曝光可同时测量电压,剂量,剂量率,半价层,脉冲,脉冲率,每脉冲剂量,曝光时间,连接mAs连接线可同时显示mA,mAs.,连接外接设备可以同时显示测量参数波形包括kV,dose,mA的波形。

   可以测量多种光束质量的乳腺机以及扫描乳腺机,光束质量包括Mo/Mo, Mo/Al, Mo/Rh, Rh/Rh, Rh/Al, W/Rh,, W/Ag, W/Al。 同时一次曝光可以直接测量出乳腺机半价层。

屏幕亮度计:

测量范围:0.01~19990cd/m2 

精度:≥测量值的±0.5%±1个字 

准确度:≤测量值的±4%±1个字(相对于NIM标准) 

光谱响应特性:符合国家一级标准

线性误差:≤测量值的±0.2%±1个字

温度特性:≤测量值的±0.1%/℃±1个字

长期稳定性:年变化<2%

 

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